X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy (3. Aufl. 2017. 118 S. 27.9 cm)
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X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy (3. Aufl. 2017. 118 S. 27.9 cm)  Paperback

Friel, John J./ Terborg, Ralf/ Langner, Stefan/ Salge, Tobias/ Rohde, Martin/ Berlin, Jana/ Herausgegeben von Bruker Nano GmbH

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