Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 (Nanoscience and Technology)
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology 3 (Nanoscience and Technology)  Paperback,  言語:ENG

Bhushan, Bharat (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥37,577(本体¥34,161)
  • Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K(2016/08発売)
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Handbook of Nanomaterials Properties, 2 Teile (Softcover reprint of the original 1st ed. 2014. 2017. liv, 1463 S. LIV)
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Handbook of Nanomaterials Properties, 2 Teile (Softcover reprint of the original 1st ed. 2014. 2017. liv, 1463 S. LIV)  Paperback

Herausgegeben:Bhushan, Bharat/ Luo, Dan/ Schricker, Scott R./ Sigmund, Wolfgang/ Zauscher, Stefan

  • ウェブストア価格 ¥194,932(本体¥177,211)
  • SPRINGER, BERLIN; SPRINGER BERLIN HEIDELBERG; SPRINGE(2017発売)
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Nanotribology and Nanomechanics I : Measurement Techniques and Nanomechanics (2011)
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Nanotribology and Nanomechanics I : Measurement Techniques and Nanomechanics (2011)  Paperback

Bhushan, Bharat (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥12,155(本体¥11,050)
  • Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K(2014/11発売)
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用II:走査プローブ顕微鏡テクニック<br>Applied Scanning Probe Methods II Vol.2 : Scanning Probe Microscopy Techniques (Nanoscience and Technology) (2006. 390 p. 23,5 cm)
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用III:キャラクタリゼーション<br>Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) (2006. 350 p. 23,5 cm)
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用III:キャラクタリゼーション
Applied Scanning Probe Methods III Vol.3 : Characterization (Nanoscience and Technology) (2006. 350 p. 23,5 cm)
 Hardcover,  言語:ENG

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

  • ウェブストア価格 ¥41,768(本体¥37,971)
  • SPRINGER, BERLIN(2006発売)
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走査プローブ顕微鏡IV:産業面への応用<br>Applied Scanning Probe Methods IV Vol.4 : Industrial Application (Nanoscience and Technology) (2006. 200 S. 23,5 cm)
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走査プローブ顕微鏡IV:産業面への応用
Applied Scanning Probe Methods IV Vol.4 : Industrial Application (Nanoscience and Technology) (2006. 200 S. 23,5 cm)
 Hardcover,  言語:ENG

Ed. by Bharat Bhushan and Harald Fuchs

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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用<br>Applied Scanning Probe Methods (Nanoscience and Technology) (2004. XX, 476 p. w. 338 figs. (6 col.) 24 cm)
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走査プローブ顕微鏡と産業面への応用
Applied Scanning Probe Methods (Nanoscience and Technology) (2004. XX, 476 p. w. 338 figs. (6 col.) 24 cm)
 Hardcover

Ed. by Bharat Bhushan, Harald Fuchs and Sumio Hosaka

  • ウェブストア価格 ¥41,768(本体¥37,971)
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (Nanoscience and Technology)
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Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology (Nanoscience and Technology)  Paperback,  言語:ENG

Bhushan, Bharat (EDT)

  • ウェブストア価格 ¥66,313(本体¥60,285)
  • Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K(2016/08発売)
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AI Models for Blockchain-Based Intelligent Networks in IoT Systems : Concepts, Methodologies, Tools, and Applications (Engineering Cyber-physical Systems and Critical Infrastructures)
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AI Models for Blockchain-Based Intelligent Networks in IoT Systems : Concepts, Methodologies, Tools, and Applications (Engineering Cyber-physical Systems and Critical Infrastructures)  Hardcover

Bhushan, Bharat (EDT)/ Sangaiah, Arun Kumar (EDT)/ Nguyen, Tu N. (EDT)

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